Opis
W książce znajdziemy:
– parametry tranzystorów
– pomiary parametrów statycnzych tranzystorów
– pomiary termicznych parametrów tranzystorów
– pomiary parametrów dynamicznych
– pomiary zespołów tranzystorów
– badania odporności i wytrzymałości tranzystora
– pomiar parametrów przełączania tranzystorów
– pomiary parametrów szumowych tranzystora
– zagadnienia automatyzacji pomiarów w procesie produkcyjnym tranzystorów
Wymiary: 20,8 cm x 14,9 cm. Oprawa miękka, stan bdb-. Lekki zapach piwniczny. Śladowe przygięcia, przytarcia i przybrudzenia okładki. Lekkie przybrudzenia zewn. części kartek. Wyd. WNT, 1984. 288 stron.
Informacje dodatkowe
| Waga | 0.37 kg |
|---|
Podobne produkty
Technika , przemysł , motoryzacja
Akceleratory cząstek naładowanych i ich zastosowania – Waldemar Scharf
14.00zł
